1.是借助精度為0.5m的電子水平儀，用位移法可檢測大理石平臺的直線(xiàn)度，用次方法可檢測大理石平臺的平面度，將檢測的結果經(jīng)過(guò)算法換算，可得到大理石平臺的直線(xiàn)度和平面度的具體數值；其特點(diǎn)是精度不太高，但測量數據可靠，無(wú)“0”點(diǎn)漂移問(wèn)題，特別適合于在線(xiàn)測量與檢測精密大理石平臺。

 

2.測量精密大理石平臺直線(xiàn)度的方法可以通過(guò)精度為0.1m的電容測微儀用位移法測量，其表頭的示值即為精密大理石平臺的直線(xiàn)度的誤差值；在此測量中，由于電感測微儀自身的“0”點(diǎn)漂移較嚴重，需經(jīng)過(guò)長(cháng)達24h的穩定后，其數值才可信，故使得精密大理石平臺加工與測量間的銜接時(shí)間增長(cháng)。

 

更高精度精密大理石平臺的加工必須有更高一級精度的檢測手段，目前常采用HP5528A或HP5529A動(dòng)態(tài)校準儀，它的顯示精度為1nm，可檢測平面度、垂直度、直線(xiàn)度、時(shí)基即振動(dòng)、角位移測量、對角測量等等。動(dòng)態(tài)校準儀的檢測精度特別高，但由于其復雜的光學(xué)系統和復雜的調試程序，尤其是光具返回光束的光強和保證在80%以上，否則光束將被擋住，這對精密大理石平臺調試者來(lái)說(shuō)